Leica DM4 P：全方位服务唾手可得

如果您想在偏光显微镜下进行各种操作，可以使用 Leica DM4 P 半自动正置偏光显微镜。

通过编码组件存储和调用信息

• 想要更换物镜时，可通过照明强度控制和对比度管理器调用照明强度和光阑的设置。
• 得益于编码物镜转盘的存在，摄取的图像始终得到校准。 

辨识感兴趣的结构

• 25-mm 大视场为您带来优质的概览图像。
• 为您展现所需具体信息的往往是低放大倍率下的整体图，而不是细节图 — 比如流动结构、变形结构或冷却过程造成的带状排列结构。

让物镜转盘来应对！

物镜转盘配备 6 个物镜并具有不同放大倍率，获取丰富的样品信息。

• 使用 2.5 倍概览物镜可识别样品中的宏观结构
• 如要借助锥光法对光学属性进行详尽研究，可切换为 63 倍放大倍率
• 切换至 100 倍可以沿颗粒边界检验相反应

而且物镜转盘也是编码的，可为您提供智能支持。

两种照明物尽其用

您可以将 Leica DM4 P 偏光显微镜配置为 LED 照明使用透射光或入射光，也可以一次性配置为使用两种光源。

• 进行反射率测量时必须使用入射光，例如观察矿石或煤炭。
• 进行双折射测量时则需要使用透射光，例如检测地质薄片、聚合物薄膜或药品。
• 在地质研究等特殊应用中，两种光都必不可少。

当显微镜配置为使用入射光和透射光两种光时，相关物镜 (带或不带盖玻片校正功能) 应从 >10 倍的放大倍率开始使用。

研究光学属性

锥光法用于研究干涉图。这些图的形状和由补偿器进行的修改可以生成有关研究材料光学属性方面的信息。您可以测定材料的光轴数量、光轴角度和光学特性。

Leica DM4 P 非常适用于锥光法：

• 具有高放大倍率和高数值孔径的无应力物镜是该项应用的必备条件。